Zakładka z wyszukiwarką danych komponentów
Selected language     Polish  ▼
Nazwa części
         Szczegóły


74HC00BQ Datasheet(Arkusz danych) 7 Page - NXP Semiconductors

Numer części 74HC00BQ
Szczegółowy opis  Quad 2-input NAND gate
Pobierz  15 Pages
Scroll/Zoom Zoom In 100% Zoom Out
Producent  NXP [NXP Semiconductors]
Strona internetowa  http://www.nxp.com
Logo 

 7 page
background image
74HC_HCT00_4
© NXP B.V. 2010. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 04 — 11 January 2010
7 of 15
NXP Semiconductors
74HC00; 74HCT00
Quad 2-input NAND gate
Test data is given in Table 9.
Definitions test circuit:
RT = termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
CL = load capacitance including jig and probe capacitance.
Fig 7.
Load circuitry for measuring switching times
001aah768
tW
tW
tr
tr
tf
VM
VI
negative
pulse
GND
VI
positive
pulse
GND
10 %
90 %
90 %
10 %
VM
VM
VM
tf
VCC
DUT
RT
VI
VO
CL
G
Table 9.
Test data
Type
Input
Load
Test
VI
tr, tf
CL
74HC00
VCC
6.0 ns
15 pF, 50 pF
tPLH, tPHL
74HCT00
3.0 V
6.0 ns
15 pF, 50 pF
tPLH, tPHL




Html Pages

1  2  3  4  5  6  7  8  9  10  11  12  13  14  15 


Datasheet Download




Link URL

Czy Alldatasheet okazała się pomocna?  [ DONATE ]  

O Alldatasheet   |   Reklama   |   Kontakt   |   Polityka prywatności   |   Dodaj do ulubionych   |   Linki   |   Lista producentów
All Rights Reserved© Alldatasheet.com


Mirror Sites
English : Alldatasheet.com  , Alldatasheet.net  |   Chinese : Alldatasheetcn.com  |   German : Alldatasheetde.com  |   Japanese : Alldatasheet.jp  |   Russian : Alldatasheetru.com
Korean : Alldatasheet.co.kr   |   Spanish : Alldatasheet.es  |   French : Alldatasheet.fr  |   Italian : Alldatasheetit.com  |   Portuguese : Alldatasheetpt.com  |   Polish : Alldatasheet.pl