Zakładka z wyszukiwarką danych komponentów |
|
ADG506AKN Arkusz danych(PDF) 6 Page - Analog Devices |
|
ADG506AKN Arkusz danych(HTML) 6 Page - Analog Devices |
6 / 8 page ADG506A/ADG507A –6– REV. C –Test Circuits Note: All Digital Input Signal Rise and Fall Times Measured from 10% to 90% of 3 V. tR = tF = 20 ns. Test Circuit 6. Switching Time of Multiplexer, tTRANSITION Test Circuit 7. Break-Before-Make Delay, tOPEN Test Circuit 1. RON Test Circuit 2. IS (OFF) Test Circuit 3. ID (OFF) Test Circuit 4. ID (ON) Test Circuit 5. IDIFF |
Podobny numer części - ADG506AKN |
|
Podobny opis - ADG506AKN |
|
|
Link URL |
Polityka prywatności |
ALLDATASHEET.PL |
Czy Alldatasheet okazała się pomocna? [ DONATE ] |
O Alldatasheet | Reklama | Kontakt | Polityka prywatności | Linki | Lista producentów All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |